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                  首頁>產品信息>半導體制程支撐類產品>失效分析系統
                  
            
                  
                
                  失效分析系統
                  
                
                  通過微弱的光發射和熱發射來定位半導體器件上失效缺陷位置的顯微鏡成像系統。
                  
            
                  
        
                  
    
                  
    
    
                  
        
                  
            
                  
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                            產品型號：C14229-01
                            產品名稱：Thermal-F1 熱發射顯微鏡
                            
                        
                  
                        
                        
                  
                            
                                
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                            產品型號：C10506-05-16
                            產品名稱：iPHEMOS-DD倒置光發射顯微鏡
                            
                        
                  
                        
                                      
                
                  
            
                  
            
                  
                
            
                  

        
                  
    
                  
    

                  
    
                  
        
                  
            
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